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PCB/PCBA測試-華碧檢測-第三方檢測機(jī)構(gòu)

PCB作為元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~,現(xiàn)已成電子信息產(chǎn)品更為重要而關(guān)鍵的部分,其可靠性與穩(wěn)定性決定著整個(gè)設(shè)備的安全運(yùn)作與質(zhì)量。PCB高密度的發(fā)展趨勢以及無鉛與無鹵的環(huán)保要求,越來越多的PCB出現(xiàn)了潤濕不良、爆板、分層、CAF等等各種失效問題。PCB失效機(jī)理與原因,將有利于將來對PCB的質(zhì)量控制,從而避免類似問題再度發(fā)生。

華碧實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員在PCB/PCBA質(zhì)量管控/質(zhì)量評價(jià)、失效分析等領(lǐng)域有多年的經(jīng)驗(yàn),積累了大量的實(shí)操案例,針對客戶在研發(fā)、認(rèn)證、生產(chǎn)及客服投訴等不同階段提供不同的解決方案,快速解決客戶問題。


華碧檢測服務(wù)行業(yè):

材料供應(yīng)商:覆銅板、撓覆銅板、半固化片、樹脂、阻焊劑、玻璃纖維、聚合材料

印刷電子:

PCB生產(chǎn)商:剛性板、撓性板、HDl高密度互連板、金屬芯板、芯片封裝

EMS.OEMS.CEMS.PCBA生產(chǎn)商:高鐵、航空航天、通信電路、汽車電路、醫(yī)療設(shè)備、手持設(shè)備、儀器

塑料及復(fù)合材料行業(yè):


華碧檢測服務(wù)項(xiàng)目:

環(huán)境模擬試驗(yàn):粘合強(qiáng)度、拉伸試驗(yàn)、延展率、耐折性、剪切強(qiáng)度、壓縮強(qiáng)度、拉脫強(qiáng)度、彎曲強(qiáng)度、低溫彎曲、錫須生長

失效分析:CAF失效點(diǎn)分析可焊性驗(yàn)證分析、生產(chǎn)及組裝工藝、SEM/EDS分析、結(jié)構(gòu)完整性分析、盲孔/埋子L切片分析、BGA焊點(diǎn)質(zhì)量分析、線寬線距驗(yàn)證分析、可焊性不良分析、絕緣電阻偏小分析

環(huán)境可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目:高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)、低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)、溫濕度儲(chǔ)存試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、熱老化試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)和鹽霧交變試驗(yàn)

電氣性能試驗(yàn):耐電弧互連電阻、電氣強(qiáng)度、絕緣電阻、銅箔電阻、電路連通性、表面絕緣電阻、介質(zhì)擊穿電壓、相對漏電起痕指數(shù)、介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因素、表面電阻率和體積電阻率

物理性能試驗(yàn):尺寸穩(wěn)定性尺寸測量、金相切片、鍍層附著力、鍍涂層厚度、玻璃化溫度、固化因素、膨脹系數(shù)、熱分層時(shí)間、熱分層溫度、熱分解溫度、模擬返工、紅外光譜、電鏡/能譜、導(dǎo)熱系數(shù)、熱阻


PCB檢測

序號 項(xiàng)目 參考標(biāo)準(zhǔn)
1 絕緣電阻測試 GB4677.1
2 鹽霧試驗(yàn) GB2423.17
3 耐熱沖擊測試 GB4677.11
4 電遷移試驗(yàn) GJB 362A-96
5 溶劑萃取的電阻率 IPC-PM-650 2.3.25
6 可焊性試驗(yàn) J-STD-003C
7 在線絕緣電阻測試 IPC-TM650
8 焊接層厚度 IPC-TM-650 2.2.18.1:
9 金屬芯(尺寸、微觀組織) IPC-A-600G
10 銀遷移試驗(yàn) GB4677.1,GB/T 2423.3
11 阻焊膜耐電遷移 IPC-TM-650 2.6.14
12 耐電遷移 無標(biāo)準(zhǔn)
13 染色 "IPC-TM-6502.1.2:2015"
14 金相切片分析 "IPC-TM-650 2.1.1:2015"
15 SEM/EDS GB/T 17359-2012
16 FTIR顯微傅里葉紅外光譜分析
17 可焊性試驗(yàn)

"IPC J-STD-002C:2013;

《J-STD-003C-Amendment-1》邊緣浸焊或者浮焊;

J-STD-002D(L);J-STD-003B-2007;"

18 XRF鍍層厚度測量 /
19 金相鍍層分析

"ASTM B568:1998(2004);ASTM A754:2000

ASTM B659-90(1997);ISO3497:2000

GB/T16921:1997"

20 庫倫法(電解法)鍍層分析


覆銅板、PCBA檢測

序號 項(xiàng)目 參考標(biāo)準(zhǔn)
21 偏壓壽命試驗(yàn) JESD22-A100-2013
22 溫濕度偏壓壽命試驗(yàn) JESD22-A101-2009
23 高溫水煮氣壓試驗(yàn) JESD22-A102-C
24 錫須生長評價(jià) JEDEC/ JESD22A121
25 導(dǎo)電陽極絲試驗(yàn) IPC-TM 650 2.6.25
26 回流焊試驗(yàn) /
27 離子污染度(陰陽離子) 電路板的離子分析,離子色譜法 IPC TM-650 2.3.28B-2012
28 離子污染度(NaCl當(dāng)量濃度) IPC TM-650 2.325D-2012
29
離子污染度(C3測試) 客戶要求
30 耐焊接熱 IEC60068-2-20
31
離子遷移測試 GJB 362A-96
32 冷熱沖擊試驗(yàn) JESD22-A104
33 翹曲度測試 GB4722-2002
34 彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)
35 抗剝強(qiáng)度試驗(yàn)
36 銅箔延伸率
37
介質(zhì)耐電壓測試 GB1408
38 表面目檢

"IPC-A-610D"

39 邊緣目檢
40 層壓板缺陷目檢
41 連接盤起翹目檢
42 標(biāo)記目檢
43
鍍層附著力目檢
44 孔內(nèi)鍍層和涂覆層空洞目檢


清潔度分析

序號 項(xiàng)目 參考標(biāo)準(zhǔn)
45 顆粒物清潔度(衰減)

"VDA 19  ISO 16232"

46 顆粒物清潔度(衰減+清洗液) "VDA 19  ISO 16232"
47 顆粒物清潔度(常規(guī)) "VDA 19  ISO 16232"
48 顆粒物清潔度(常規(guī)+清洗液) "VDA 19  ISO 16232"


水分、含水率(固體、液體)

序號 項(xiàng)目 參考標(biāo)準(zhǔn)
49 水分、含水率(固體、液體)

GB/T 6324.8-20142 有機(jī)化工產(chǎn)品試驗(yàn)方法,第8部分:液體產(chǎn)品水分測定卡爾.費(fèi)休庫倫電量法

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