提升中國制造的質(zhì)量水平


華碧實驗室在電子元器件、微電子技術(shù)的質(zhì)量與失效分析方面完成了大量科研任務,為提供領(lǐng)先行業(yè)的技術(shù)服務積累了厚實的技術(shù)基礎(chǔ)。近些年來,隨著企業(yè)對電子產(chǎn)品壽命評估、工藝質(zhì)量改進、產(chǎn)品可靠性增長,為企業(yè)提供相關(guān)科研技術(shù)支撐和實際問題解決方案。
科研對象 Research Objects
| 大規(guī)模集成電路 線路板及線路板組件 混合集成電路及多芯片組件 光電器件 微波器件及組件 阻容元器件、繼電器、連接器 RoHS及有害物質(zhì)控制管理系統(tǒng) | Integrated Circuit |
| 可靠性物理 失效模式、失效機理及其數(shù)理模型 可靠性設(shè)計與仿真技術(shù) ESD設(shè)計 熱設(shè)計有限元仿真 生產(chǎn)過程質(zhì)量控制技術(shù) SPC、Cpk、PPM、6σ、QCC 失效分析與材料分析技術(shù) FIB、EB、SEM及其分析技術(shù) 可靠性測試、評價、試驗技術(shù) 先進電子封裝/組裝互連可靠性 高加速應力試驗方法,極限應力試驗方法 電子產(chǎn)品壽命評價 可靠性增長技術(shù) 基于失效物理 (PoF)的可靠性增長方案 | Reliability Physics |
| RoHS及有害物質(zhì)控制管理系統(tǒng) 強大的可靠性數(shù)據(jù)庫 專業(yè)試驗設(shè)備研制 | RoHS & Pollution Administration system |
| 網(wǎng)站地圖 | 法律聲明 | 公正性聲明 | 檢測服務通用條款 |
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